【机器型号】iPhone XS MAX
【故障现象】手机面容ID不可用
【维修过程】
收到一iPhone XS MAX故障机，客户描述手机面容ID不能用。开机检测，同客户描述的一致。加电漏电430mA左右，能开机进入系统，除面容不能使用外其它功能正常。
加电不触发手感温度发现CPU面靠近面容供电IC起热，分开上下层，再次加电面容供电IC起热，结合只有面容不能用，确定这个芯片故障，取下更换一个后仍然是加电漏电400多毫安。
查面容供电IC周边元件无短路和无对地值偏低，继续查找面容相关电路的连接座及连接座周边电路对地值发现C4490两端都是接地，此电容一端是面容供电IC引出的的供电，更换电容后短路消失。
再次安装主板到壳总成，测试面容依然无法使用，点阵取下连接到鲁斑测试工具测试用安卓手机拍照时能正常发光，泛光部位也能正常发光。
但点阵安装到主板用CAPTURE软件打开测试，再用安卓手机拍照捕捉是不能发光，由此断定还是点阵没能正常工作，问题应当出在面容供电IC线路。
经综合判断后，打开点位图发现C4490的一端是直接通面容供电IC，没连接到其它线路，但通过查看原理图发现是经XW元件和主供电相通，也就是实际等于直接相通才对，测量C4490的供电对地值明显高于PP_VDD_MAIN，测量两点不通，判定:这两点实际是断路了，于是飞线解决。
装机测试，面容ID正常录入和解锁成功。
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